Michał Wieczorkowski
Filtruj po kategorii
Filtruj po formacie
Filtruj po cenie
Liczba pozycji: 1
- Z przedstawionego w niniejszej pracy przeglądu zagadnień związanych z topograficzną analizą powierzchni wynika, jak ważny i powszechny jest to problem. Uwzględniając ponadto, że ze wszystkich dziedzin metrologii wielkości geometrycznych pomiary nierówności powierzchni uważane są za najtrudniejsze i najbardziej skomplikowane, a rzeczywista chropowatość powierzchni jest tak złożona, że jej poznanie i...
Data dostępności:
Filtruj wyniki wyszukiwania
Filtruj po formacie
Filtruj po cenie

